測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:09-25 2024 來自:祥宇精密
測量誤差是指在測量過程中,測量結果與被測量真值之間的差異。這種差異可以是系統性的,也可以是隨機的。在刀具測量儀的應用中,測量誤差直接影響到刀具的精度和加工工件的質量。因此,了解和控制測量誤差至關重要。
刀具測量儀的測量誤差可以分為以下幾類:
系統誤差是由測量儀器或測量方法本身固有的缺陷所引起的,具有一定的規律性。常見的系統誤差包括:
隨機誤差是由各種偶然因素引起的,其大小和方向不確定,但服從一定的統計規律。常見的隨機誤差包括:
粗大誤差是指在測量過程中出現的明顯偏離真值的誤差,通常是由于操作失誤或儀器故障引起的。例如,讀數錯誤、儀器故障等。
了解測量誤差的類型后,我們進一步分析其產生的原因,以便采取相應的措施進行控制和消除。
刀具測量儀本身的精度和穩定性直接影響測量結果。如果儀器的校準不準確,傳感器性能不穩定,或者機械部分存在磨損,都會導致測量誤差。
操作人員的技術水平和操作規范對測量結果也有很大影響。例如,測量時的對中誤差、角度誤差等,都是由于操作不當引起的。
環境溫度、濕度、振動等因素的變化也會對測量結果產生影響。特別是在工業現場,環境條件往往比較惡劣,容易引起測量誤差。
測量方法的選擇和實施也會影響測量結果。例如,選擇不合適的測量基準,或者測量方法不完善,都會導致測量誤差。
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